✅ Poštovné ZADARMO nad 39€ ✅ Knižná akcia každý mesiac ✅Výhodné ceny ✅Bezpečný nákup
Skripta jsou především určena studentům předmětů A0M38MET a XP38MPM, které jsou zajišťovány katedrou měření na FEL ČVUT v Praze. Jejich první část je věnována fundamentální metrologii, pojednává o měřicích škálách, soustavě měřicích jednotek SI, etalonech elektrických veličin, metodách používaných při navazování etalonů, chybách měření a nejistotách měření. Druhá část je zaměřena na problematiku přesných měření stejnosměrných a nízkofrekvenčních elektrických veličin a seznamuje studenty jednak se speciálními prostředky a zařízeními, jejichž používání umožňuje dosahovat vysoké přesnosti měření, jednak s vlastními metodami přesného měření aktivních i pasivních elektrických veličin.
Recenzie a kritiky
Rok vydania:
2019ISBN:
9788001066126Rozmer:
205×290 mmPočet strán:
134Väzba:
brožovanáJazyk: čeština
